Открывая науку позади рентгеновской флуоресцентной спектрометрии: шлюз к точному элементному анализу

Рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF)-это усовершенствованный аналитический прибор, используемый для определения элементного состава материалов. Эта технология основана на принципе флуоресценции: образец возбуждается рентгеновскими лучами, в результате чего его атомы испускают вторичные рентгеновские лучи, характерные для их элементного состава. Это позволяет идентифицировать и количественно оценить различные элементы в образце, p