Deblocarea științei din spatele fluorescenței X: O poartă spre analiză elementară precisă

Spectrometru de fluorescență a razei X (XRF) este un instrument analitic avansat utilizat pentru a determina compoziția elementară a materialelor. Tehnologia foloseşte principiul fluorescenţei, în cazul în care o mostră este excitată de raze X, determinând atomii să emită raze X secundare caracteristice machiajului lor elementar. Acest lucru permite identificarea și cuantificarea diferitelor elemente din cadrul unui eșantion,