O espectrômetro de fluorescência de raios X (XRF) é um instrumento analítico avançado usado para determinar a composição elementar dos materiais. A tecnologia aproveita o princípio da fluorescência, onde uma amostra é excitada por raios-X, fazendo com que seus átomos emitam raios-X secundários característicos de sua composição elementar. Isso permite a identificação e quantificação de vários elementos dentro de uma amostra, p