Avatkaa tieteen Bee-Ray fluoresenssispektrometria: Gateway tarkkaan elementaaliseen analyysiin

Röntgen fluoresenssi spektrometri (XRF) on kehittynyt analyyttinen laite, jota käytetään materiaalien alkuainekoostumuksen määrittämiseen. Teknologia vaikuttaa fluoresenssin periaatteeseen, jossa näyte innostuu röntgenkuvista. Aiheuttaa sen atomien aiheuttamia sekundaarisia röntgenkuvia, jotka ovat ominaisia niiden alkuaineelle. Näin voidaan tunnistaa ja määrätä eri osia näytteen sisällä, p