El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un instrumento analítico avanzado que se utiliza para determinar la composición elemental de los materiales. La tecnología aprovecha el principio de la fluorescencia, donde una muestra es excitada por rayos X, haciendo que sus átomos emitan rayos X secundarios característicos de su composición elemental. Esto permite la identificación y cuantificación de varios elementos dentro de una muestra, p