Φασματόμετρο φθορισμού ακτινοβολίας (XRF) είναι προηγμένο αναλυτικό όργανο που χρησιμοποιείται για τον προσδιορισμό της στοιχειακής σύνθεσης των υλικών. Η τεχνολογία αξιοποιεί την αρχή της φθορισμού, όπου ένα δείγμα ενθουσιάζεται από τις ακτίνες Χ, Προκαλώντας τα άτομα της να εκπέμπουν δευτερεύουσες ακτίνες Χ χαρακτηριστικές του στοιχειώδους συσκευασίας τους. Αυτό επιτρέπει τον προσδιορισμό και τον προσδιορισμό των διαφόρων στοιχείων εντός ενός δείγματος,