مطياف الفلورسنت بالأشعة السينية (XRF) هو أداة تحليلية متقدمة تستخدم لتحديد التركيب الأولي للمواد. تعزز التكنولوجيا مبدأ الفلورسنت ، حيث تكون العينة متحمسة بالأشعة السينية ، مما يتسبب في أن تنبعث ذراتها أشعة سينية ثانوية مميزة لمكياجها الأولي. وهذا يتيح تحديد وقياس العناصر المختلفة داخل العينة ، p